فحص WELLMAN X6800 بالأشعة السينية لتحدي صناعة موصلات USB ونوع C
2026-06-29
تحدي الصناعة
تتميز موصلات وكابلات USB/Type-C بمفاصل لحام داخلية صغيرة وأسلاك وطبقات حماية. لا يمكن للفحص البصري اكتشاف العيوب الخفية مثل فراغات اللحام، واللحام البارد، وكسر الأسلاك، وإزاحة الدبوس، وتشوهات التدريع الداخلي، والتي تتسبب بسهولة في الشحن غير المستقر، وفقدان الإشارة، والفشل المبكر للمنتج.
حل الفحص: نظام الأشعة السينية WELLMAN X6800 Microfocus
مزود بأنبوب أشعة سينية مغلق بتركيز دقيق 5 ميكرومتر وكاشف لوحة مسطحة عالي الدقة بزاوية 60 درجة، يوفر جهاز X6800 تصويرًا متعدد الزوايا فائق الوضوح لمكونات USB الصغيرة دون فقدان التكبير.
منصة كبيرة مقاس 530 × 530 مم تحتوي على دفعات من كابلات وموصلات USB؛ يعمل التنقل بنقرة واحدة على تحديد مناطق الكشف بسرعة
أداة قياس الفراغ التلقائية المدمجة لتحديد نسبة فراغ اللحام، ووضع علامة تلقائية على OK/NG
برامج فحص قابلة للتحرير لاختبار الدفعات التلقائي الشامل
تكلفة تعلم منخفضة، حيث يتقن المشغلون التشغيل خلال ساعتين
معيار قياس الفراغ التلقائي الموحد، يقلل من الخطأ البشري
سرعة اكتشاف سريعة تصل إلى 3 ثوانٍ لكل نقطة فحص، مما يحسن إنتاجية الإنتاج
تصميم تعشيق كامل للسلامة من الإشعاع، متوافق تمامًا مع معايير السلامة في المصنع
ملخص
يحقق WELLMAN X6800 فحصًا داخليًا كاملاً غير مدمر لجميع أنواع موصلات وكابلات USB، ويتحكم بشكل فعال في جودة اللحام والتجميع، ويقلل معدل فشل ما بعد البيع لمنتجات الشحن ونقل البيانات للمستهلك.