سعر جيد  الانترنت

تفاصيل المنتجات

المنزل > المنتجات >
فحص الأشعة السينية الآلي
>
في خط نظام فحص الأشعة السينية قياس معدل الفراغ الماوس لوحة المفاتيح التحكم الكامل

في خط نظام فحص الأشعة السينية قياس معدل الفراغ الماوس لوحة المفاتيح التحكم الكامل

الاسم التجاري: WELLMAN
رقم النموذج: IL-3000
مو: 1
شروط الدفع: تي/تي
معلومات تفصيلية
مكان المنشأ:
الصين
إصدار الشهادات:
CE, FDA
يكتب:
microfocus
أقصى جهد للأنبوب:
90 كيلو فولت
أقصى أنبوب الحالي:
200μA
حجم النقطة البؤرية:
5μm
منطقة يمكن اكتشافها:
طول 520 مم ، عرض 80-430mm قابل للتعديل
تفاصيل التغليف:
حالة خشبية
إبراز:

نظام فحص بالأشعة السينية في الخط مع قياس معدل الفراغ

,

تحكم مفاتيح المفاتيح بالفأرة للتفتيش بالأشعة السينية الآلي

,

نظام فحص بالأشعة السينية لقياس الفراغ

وصف المنتج
نظام فحص بالأشعة السينية أثناء التشغيل لقياس نسبة الفراغات في لوحة المفاتيح والتحكم الكامل بالفأرة
نظرة عامة على المنتج

يقدم نظام الفحص بالأشعة السينية الدقيقة IL-3000 أثناء التشغيل إمكانيات فحص آلية متقدمة مع تشغيل بديهي وميزات أمان شاملة.

المزايا الرئيسية
  • أنبوب أشعة سينية مغلق: عمر خدمة يزيد عن 10,000 ساعة وأداء خالٍ من الصيانة
  • كاشف مسطح رقمي عالي الدقة (FPD) جديد من الجيل الخامس بحجم 5 بوصات
  • نافذة تنقل تلقائي: تتحرك الطاولة إلى المواقع المنقرة
  • نقل بالحزام مع تعديل العرض عبر برغي رصاصي وقضيب توجيه (الحد الأقصى للعرض 620 مم)
  • نظام حركة 6 محاور بمحرك سيرفو (يتحرك أنبوب الأشعة السينية والكاشف المسطح بشكل متزامن)
  • إجراءات فحص قابلة للتخصيص للفحص الآلي عالي الحجم
  • تشغيل بديهي مع تحديد سريع للعيب (يتطلب ساعتين تدريب فقط)
مواصفات الأجهزة
مصدر الأشعة السينية
النوع مغلق، دقيق
أقصى جهد للأنبوب 90 كيلو فولت
أقصى تيار للأنبوب 200 ميكرو أمبير
حجم البقعة البؤرية 5 ميكرومتر
الوظيفة تسخين مسبق تلقائي
كاشف مسطح
العلامة التجارية IRay
المساحة الفعالة 130 مم * 130 مم
حجم البكسل 85 ميكرومتر
الدقة 1536 * 1536
معدل الإطارات 20 إطارًا في الثانية
زاوية الميل 60 درجة
نظام الفحص
النقل حزام
المحرك محرك سيرفو
منطقة قابلة للكشف طول 520 مم، عرض قابل للتعديل 80-430 مم
الحد الأقصى للحمل 10 كجم
مواصفات المعدات
التكبير هندسي 200X | نظام 1500X
سرعة الفحص بحد أقصى 3.0 ثانية/نقطة
الأبعاد 2600 مم (طول) * 1300 مم (عرض) * 1800 مم (ارتفاع)
أبعاد الجهاز الرئيسي 1400 مم (طول) * 1300 مم (عرض) * 1800 مم (ارتفاع)
الوزن 2200 كجم
مزود الطاقة تيار متردد 110-220 فولت 50/60 هرتز
الحد الأقصى للطاقة 3000 واط
كمبيوتر صناعي معالج i7، ذاكرة وصول عشوائي 16 جيجابايت، قرص SSD بسعة 240 جيجابايت + قرص صلب بسعة 1 تيرابايت
شاشة العرض شاشة LCD HDMI مقاس 24 بوصة
مبدأ العمل
Diagram illustrating PCB/SMT X-ray inspection working principle showing component analysis and void detection
ميزات الأمان
  • تسرب الإشعاع: لا تسرب (≤ 1 ميكروسيفرت/ساعة - المعيار الدولي)
  • نافذة مراقبة زجاجية رصاصية شفافة للمشاهدة الداخلية الآمنة
  • نظام قفل أمان للنافذة والباب الخلفي
  • قفل أمان مغناطيسي كهربائي عند تنشيط الأشعة السينية
  • زر إيقاف الطوارئ بالقرب من موضع التشغيل
  • حماية تلقائية للأنبوب عند الخروج من البرنامج
قدرات البرنامج
وحدة الوظائف التشغيل
التحكم في أنبوب الأشعة السينية تشغيل بنقرة الفأرة مع عرض وتعديل الجهد/التيار في الوقت الفعلي
شريط الحالة مؤشرات مرئية للقفل، التسخين المسبق، وحالة الأشعة السينية
تعديل تأثير الصورة إعدادات سطوع وتباين وكسب قابلة للتخصيص
قائمة المنتجات حفظ واستدعاء معلمات الفحص لتحقيق الكفاءة
نافذة التنقل وظيفة النقر للانتقال لتحديد المواقع بدقة
حالة محور الحركة عرض الإحداثيات في الوقت الفعلي
نتائج الفحص عرض واضح لبيانات القياس مع مؤشرات النجاح/الفشل
التحكم في السرعة سرعة حركة قابلة للتعديل لكل محور
قياس معدل الفراغات
  • حساب تلقائي لمعدل الفراغات في كرات اللحام، المساحة، المحيط
  • إضافة فراغات يدوية عبر رسم مضلع/يدوي حر
  • حفظ المعلمات للفحص المتسق للمنتجات المتطابقة
  • معلمات قابلة للتعديل للقياس الدقيق (عتبة التدرج الرمادي، البكسل، التباين)
وظائف قياس إضافية
قياس المسافةمع مرجع خط الأساس
قياس نصف القطرللمكونات الدائرية
قياس المحيطللمكونات المربعة
حساب معدل المسافةللحام الثقوب
قياس الزاويةبين نقاط المرجع
أوضاع الفحص التلقائي
  • التعرف التلقائي على الميزات لنقاط الفحص المميزة
  • تعيين نقاط يدوية لمواقع الفحص المخصصة
  • وضع المصفوفة لأنماط الفحص المنتظمة
أمثلة التطبيق
Example of PCB X-ray inspection results showing component analysis and void detection Close-up view of X-ray inspection showing detailed component analysis and measurement data