سعر جيد  الانترنت

تفاصيل المنتجات

المنزل > المنتجات >
آلة الإلكترونيات X راي
>
جهاز الأشعة السينية للإلكترونيات يدمج نظام فحص الأشعة السينية بالتركيز الدقيق X6000

جهاز الأشعة السينية للإلكترونيات يدمج نظام فحص الأشعة السينية بالتركيز الدقيق X6000

الاسم التجاري: WELLMAN
رقم النموذج: X6000
مو: 1
شروط الدفع: تي/تي
معلومات تفصيلية
مكان المنشأ:
الصين
إصدار الشهادات:
CE FDA
يكتب:
مغلق، التركيز الدقيق
أقصى جهد للأنبوب:
90 كيلو فولت
أقصى أنبوب الحالي:
200μA
حجم النقطة البؤرية:
5μm
منطقة فعالة:
130 ملم * 130 ملم
إبراز:

نظام فحص الأشعة السينية Microfocus

,

جهاز الأشعة السينية X6000

,

نظام فحص إلكترونيات بالأشعة السينية

وصف المنتج
جهاز الأشعة السينية للإلكترونيات مع نظام فحص الأشعة السينية بالتركيز الدقيق X6000
نظام فحص متقدم بالأشعة السينية بالتركيز الدقيق مصمم لفحص الإلكترونيات بدقة ومراقبة الجودة.
إمكانيات البرنامج
التحكم في أنبوب الأشعة السينية
تشغيل بنقرة الماوس لتبديل الأشعة السينية تشغيل/إيقاف مع عرض في الوقت الفعلي لجهد التيار والجهد. ضبط المعلمات عن طريق النقر، السحب، أو الإدخال المباشر.
تعديل تأثير الصورة
سطوع وتباين وكسب قابل للتعديل للحصول على جودة صورة مثالية ونتائج فحص.
إدارة قائمة المنتجات
حفظ واستدعاء معلمات الفحص (موضع المحور Z، السطوع، التباين، الكسب) لتحسين الكفاءة مع المنتجات المتكررة.
نافذة التنقل
عرض الجدول الملتقط بالكاميرا يسمح بالتنقل المباشر بالنقر على أي موضع للحركة والعرض الفوري.
قياس معدل الفراغات
  • حساب تلقائي لمعدل فراغات كرات اللحام، المساحة، المحيط، والأبعاد
  • مؤشر NG/OK مع ترميز لوني (أحمر/أخضر)
  • عتبة تدرج رمادي قابلة للتعديل، بكسل، تباين، ومعلمات ترشيح الحجم
  • إضافة فراغات يدوية عن طريق رسم مضلع أو رسم حر
  • حفظ المعلمات لفحص منتج متسق
وظائف القياس
الوظيفة الوصف
المسافة قياس المسافة الرأسية من نقطة إلى خط الأساس
معدل المسافة حساب النسبة المئوية لقياس معدل اللحام عبر الفتحات
الزاوية قياس الزاوية بين الأشعة المحددة
المحيط قياس الطول والعرض والمساحة للمكونات المربعة
نصف القطر قياس المحيط والمساحة ونصف القطر للمكونات الدائرية
الفحص التلقائي
  • الإعداد اليدوي: برمجة أي موضع جدول كنقاط فحص
  • المصفوفة: فحص تلقائي لأنماط الشبكة المنتظمة
  • التعرف التلقائي: التعرف على الموضع والقياس بناءً على الميزات
مواصفات الأجهزة
مصدر الأشعة السينية
المعلمة المواصفات
النوع مغلق، تركيز دقيق
أقصى جهد للأنبوب 90 كيلوفولت
أقصى تيار للأنبوب 200 ميكرو أمبير
حجم البقعة البؤرية 5 ميكرومتر
الوظيفة تسخين مسبق تلقائي
كاشف لوحة مسطحة
المعلمة المواصفات
المساحة الفعالة 130 مم × 130 مم
حجم البكسل 85 ميكرومتر
الدقة 1536 × 1536
معدل الإطارات 20 إطارًا في الثانية
مواصفات الطاولة
المعلمة المواصفات
الحجم 420 مم × 420 مم
المساحة القابلة للكشف 400 مم × 400 مم
أقصى حمل 15 كجم
مواصفات المعدات
المعلمة المواصفات
التكبير (الهندسي) 150X
التكبير (النظام) 1500X
سرعة الفحص بحد أقصى 3.0 ثانية/نقطة
الأبعاد 1100 مم (طول) × 1000 مم (عرض) × 1600 مم (ارتفاع)
الوزن 1000 كجم
مزود الطاقة تيار متردد 110-220 فولت 50/60 هرتز
أقصى طاقة 1300 واط
كمبيوتر صناعي معالج Intel I5، ذاكرة وصول عشوائي 8 جيجابايت، قرص SSD بسعة 240 جيجابايت
شاشة العرض شاشة LCD HDMI مقاس 24 بوصة
مبدأ العمل
Diagram illustrating the working principle of X-Ray Inspection System showing X-ray source, sample placement, and detector configuration
المزايا الرئيسية
  • أنبوب أشعة سينية من النوع المغلق مع عمر افتراضي يزيد عن 10000 ساعة (لا يحتاج إلى صيانة)
  • جيل جديد من كاشف اللوحة المسطحة الرقمي عالي الدقة (FPD) مقاس 5 بوصات
  • تركيبة دوارة اختيارية بزاوية 360 درجة للفحص بزوايا متعددة
  • نافذة تنقل تلقائية - تتحرك الطاولة إلى الموضع المنقور عليه
  • طاولة مقاس 420 × 420 مم بسعة تحميل 15 كجم
  • نظام ربط ثلاثي المحاور قابل لتعديل السرعة
  • تشغيل بديهي يتطلب ساعتين فقط من التدريب
  • إجراءات فحص قابلة للبرمجة للفحص الآلي للدفعة
أمثلة التطبيق
Example application showing X-Ray Inspection System in use for electronics component inspection Second example of X-Ray Inspection System application demonstrating inspection capabilities