bon prix  en ligne

Détails des produits

Maison > Produits >
Source de rayons X Hamamatsu
>
110 kV Microfocus Source de rayons X 2 μm Inspection NDT haute résolution

110 kV Microfocus Source de rayons X 2 μm Inspection NDT haute résolution

Nom De La Marque: HAMAMATSU
Numéro De Modèle: L12531
MOQ: 1
Conditions De Paiement: T/T
Informations détaillées
Lieu d'origine:
Japon
Certification:
CE, FDA
Matériau cible:
Tungstène
Taper:
Source de rayons X
Nom de marque:
Hamamatsu
Lieu d'origine ::
Japon
Détails d'emballage:
Carton
Méthode de communication:
Interface : RS-232C (connecteur Sub-D à 9 broches)
Mettre en évidence:

Source de rayons X à microfoyer 110 kV

,

Source de rayons X à haute résolution de 2 μm

,

Radiographie de l'inspection de la TNO à Hamamatsu

Description du produit
Source de rayons X microfocale 110 kV HAMAMATSU L12531
Source de rayons X microfocale haute performance offrant une résolution exceptionnelle de 2 µm pour des applications de contrôle et d'inspection non destructifs de précision.
Caractéristiques principales
  • Résolution de 2 µm (sous 2 W) avec cible de transmission
  • Grossissement élevé avec une distance foyer-objet (FOD) de 1 mm
  • Source de rayons X microfocale scellée et sans entretien
  • Angle de faisceau de rayons X large de 120° pour une couverture complète
Applications
• Inspection non destructive
• Tomodensitométrie par rayons X
Objets applicables
• Composants électroniques
• Cartes de circuits imprimés
• Composants en plastique
• Composants métalliques
Visualisation du produit
HAMAMATSU L12531 Microfocus X-Ray Source close-up view
Vue rapprochée de la source de rayons X
X-ray beam angle demonstration diagram
Démonstration de l'angle de faisceau de 120°
High resolution imaging example
Exemple d'imagerie haute résolution
Maintenance-free design features
Caractéristiques de conception sans entretien
Industrial application scenario
Scénario d'application industrielle