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WELLMAN X6800: Professional X-ray Inspection for QFN Components

WELLMAN X6800 microfocus X-ray tester realizes non-destructive inner inspection of QFN packaged chips.

Equipped with 5μm ultra-fine focus X-ray source and up to 1500X magnification, it precisely checks QFN hidden troubles including solder voids, insufficient soldering and bridging under pins.

Its 60° tiltable flat panel detector and 5-axis moving platform enable multi-angle observation without image distortion. Users can store inspection parameters for batch automatic testing, only 2-hour basic training required for operators. The enclosed long-life X-ray tube and full radiation protection conform to global safety standards.

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