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WELLMAN X6800: QFN 부품에 대한 전문 엑스레이 검사

웰먼X6800마이크로포커스 X선 테스터는 QFN 패키지 칩의 비파괴 내부 검사를 실현합니다.

5μm 초미세 초점 X선 소스와 최대 1500X 배율을 탑재하여 솔더 보이드, 납땜 부족, 핀 아래 브리징 등 QFN에 숨겨진 문제를 정밀하게 검사합니다.

60° 기울일 수 있는 평면 패널 검출기와 5축 이동 플랫폼을 통해 이미지 왜곡 없이 다각도 관찰이 가능합니다. 사용자는 배치 자동 테스트를 위해 검사 매개변수를 저장할 수 있으며, 운영자에게 필요한 기본 교육은 2시간입니다. 동봉된 긴 수명의 X선관과 완벽한 방사선 보호 기능은 글로벌 안전 표준을 준수합니다.

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