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산업용 PCB X 레이 검사 장비 90kV 튜브 PCB SMT 감지

산업용 PCB X 레이 검사 장비 90kV 튜브 PCB SMT 감지

브랜드 이름: WELLMAN
모델 번호: x6800m
모크: 1
지불 조건: t/t
상세 정보
원래 장소:
중국
인증:
CE, FDA
튜브형:
봉인
시스템을 운영하세요:
성공 10
해결:
1536*1536
애플리케이션:
PCB 검사
안전 기능:
방사선 보호 및 인터록 시스템
스폿 크기를 집중시키세요:
5μm
전압:
AC 220V
틸트 검출 각:
60°
최대 튜브 전압:
90kV
유효면적:
130mm*130mm
픽셀 크기:
85μm
최대 튜브 전류:
200μA
포장 세부 사항:
나무 케이스
강조하다:

산업용 PCB 엑스레이 검사 장비

,

PCB 엑스레이 검사 장비 90kV

,

SMT 감지 PCB 엑스레이 기계

제품 설명
WELLMAN 마이크로포커스 X-Ray 검사 시스템 X6800M
X-Ray 검사 시스템: 3.0초/포인트 빠른 검사 + 자동 절차 편집
15KG 하중 430*430mm 테이블 + 3.0초/포인트 빠른 검사 + 자동 절차 편집. 일본 Hamamatsu X-ray 튜브(10,000시간 이상 수명), 60도 기울기 FPD, 1500배 고배율 기능을 갖춘 고성능 검사 시스템.
주요 장점
  • 차세대 5인치 고해상도 디지털 평판 검출기(FPD)
  • 15kg 하중 지지 용량의 430*430mm 작업 테이블
  • 속도 조절 5축 연동 시스템으로 기울기 중 이미지 중심 안정화
  • 프로그래밍 가능한 검사 공정으로 자동 배치 검사 가능
  • 2시간 교육만으로 직관적인 조작 가능
  • 일본 Hamamatsu X-ray 튜브 - 10,000시간 이상 수명(유지보수 불필요)의 최고급 밀봉 설계
  • 60도 기울기 FPD로 검사 공정 중 배율 유지
  • 자동 탐색 창 - 선택한 좌표로 플랫폼 이동
하드웨어 사양
X-ray 소스
브랜드 일본 Hamamatsu
유형 밀폐형, 마이크로포커스
최대 튜브 전압 90kV
최대 튜브 전류 200μA
초점 스팟 크기 5μm
기능 자동 예열
평판 검출기
유효 면적 130mm*130mm
픽셀 크기 85μm
해상도 1536*1536
프레임 속도 20fps
기울기 각도 60도
테이블
크기 430mm*430mm
검출 가능 면적 410mm*410mm
최대 하중 15kg
장비
배율 기하학: 150배 | 시스템: 1500배
검사 속도 최대 3.0초/포인트
치수 1220mm (L) * 1250mm (W) * 1600mm (H)
무게 1250kg
전원 공급 장치 AC110-220V 50/60HZ
최대 전력 1500W
산업용 PC I5 CPU, 4G RAM, 240GB SSD
디스플레이어 24인치 HDMI LCD
안전 기능
  • 방사선 누출: 누출 없음 (≤1μSv/h, 국제 표준)
  • 안전한 내부 관찰을 위한 투명 납 유리 관찰창
  • X-ray 작동 시 잠기는 전자파 안전 스위치
  • 작동 위치 근처에 비상 정지 버튼 배치
  • 튜브 보호 기능으로 X-ray를 닫지 않고 소프트웨어를 종료하는 것을 방지
  • 창 및 후면 도어 안전 인터록 - 열면 X-ray 전원 차단
소프트웨어 기능
기본 작업
  • 전체 키보드 및 마우스 제어
  • 실시간 전압/전류 표시 기능이 있는 마우스 클릭 X-ray 제어
  • 상태 표시줄에 인터록, 예열 및 X-ray 상태 표시
  • 이미지 밝기, 대비 및 게인 조절 가능
  • 실시간 이동 축 좌표 표시
  • 측정 데이터를 포함한 검사 결과 표시
  • 축 이동 속도 조절 가능 (느림/보통/빠름)
  • 검사 매개변수를 저장하고 불러오는 제품 목록 기능
  • 정밀한 테이블 위치 지정을 위한 탐색 창
보이드율 측정
  • 보이드율, 솔더 볼 면적, 둘레 자동 계산
  • 다각형 또는 자유 곡선 그리기를 통한 수동 보이드 추가
  • 일관된 제품 검사를 위한 매개변수 저장
  • 회색조 임계값, 픽셀, 대비 및 크기 필터링 조절 가능
측정 기능
  • 포인트 간 거리 측정
  • 스루홀 솔더링을 위한 거리율 계산
  • 원형 부품의 반경 측정
  • 사각형 부품의 둘레 측정
  • 정의된 포인트 간 각도 측정
자동 검사
  • 맞춤형 검사 위치를 위한 수동 포인트 설정
  • 정기적인 검사 포인트 패턴을 위한 배열 모드
  • 특성 검사 포인트를 위한 자동 특징 인식
작동 원리
Microfocus X-Ray Inspection System working principle diagram
응용 예시
X-Ray inspection system application example 1
X-Ray inspection system application example 2