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Fast, Accurate & Safe Microfocus X-Ray Inspection

2026-05-23

Shenzhen Weiming Photoelectricity Co., Ltd. officially launched the new X6000 Microfocus X-Ray Inspection System, providing high-precision, efficient and safe non-destructive testing solutions for electronics, semiconductors, automotive components and other manufacturing fields.


The X6000 adopts a closed microfocus X-ray tube with 30μm focal spot and a 5-inch high-definition digital flat panel detector, featuring long service life and maintenance-free operation. It is equipped with a 420mm×420mm carbon fiber loading platform (max. load 15kg), 3-axis linkage and automatic navigation, realizing 3 seconds per point fast inspection. The system supports automatic measurement and OK/NG judgment, greatly improving inspection efficiency.


With complete safety protection and easy operation (2-hour training available), the X6000 is widely used in BGA, PCB, IC, LED, electronic components and automotive parts internal defect detection.

https://www.well-man.com/sale-55091485-electronics-x-ray-machine-designed-with-large-420-by-420-millimeter-table.html

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Shenzhen Weiming Photoelectricity Co., Ltd. officially launched the new X6000 Microfocus X-Ray Inspection System, providing high-precision, efficient and safe non-destructive testing solutions for electronics, semiconductors, automotive components and other manufacturing fields.


The X6000 adopts a closed microfocus X-ray tube with 30μm focal spot and a 5-inch high-definition digital flat panel detector, featuring long service life and maintenance-free operation. It is equipped with a 420mm×420mm carbon fiber loading platform (max. load 15kg), 3-axis linkage and automatic navigation, realizing 3 seconds per point fast inspection. The system supports automatic measurement and OK/NG judgment, greatly improving inspection efficiency.


With complete safety protection and easy operation (2-hour training available), the X6000 is widely used in BGA, PCB, IC, LED, electronic components and automotive parts internal defect detection.

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