Name: Sistema de inspección de rayos X 3D de 100 µm para análisis de PCBA y semiconductores
Brand: SHENZHEN WEIMING PHOTOELECTRIC CO.,LTD.
SKU: Ultra-One 3D/CT
Availability: InStock

Nombre De La Marca:	WELLMAN
Número De Modelo:	Ultra-One 3D/CT
Moq:	1
Términos De Pago:	T/T

Información Detallada

Descripción del Producto

Información Detallada

Lugar de origen:

PORCELANA

Certificación:

CE/FDA

Tipo del tubo de radiografía:

Fuente de rayos X de tubo cerrado

Rango de voltaje del tubo:

20 a 160 KV

Matriz del pixel:

1536 × 1536

Tamaño del equipo:

1800 mm × 1800 mm × 2300 mm （Longitud × ancho × altura）

Tamaño de píxel:

el 100μm

Resaltar:

Inspección de rayos X 3D para análisis de semiconductores

Inspección de rayos X 3D de 100 µm

Inspección de rayos X 3D para análisis de PCBA

Descripción del Producto

Sistema de inspección por rayos X 3D

Aplicaciones de detección

Inspección de placa PCBA de gran tamaño
Análisis de calidad estructural interna de envases de semiconductores.
Evaluación de la calidad de la soldadura SMT que incluye:
- Detección de soldadura abierta
- Análisis de infiltración
- Medición de cantidad de soldadura
- Detección de compensación
- Identificación de cuerpo extraño
- Inspección de puentes y pasadores.

Características del equipo

Imágenes 2D/2.5D con enlace multieje para imágenes de ROI
Capacidades avanzadas de mejora de imágenes
Funciones de análisis automático y análisis de imágenes.
Funcionalidad de programación de escaneo
Módulo de imágenes de disco giratorio opcional para observación desde múltiples ángulos
Imágenes 3D para dispositivos locales en placas completas
Opciones de imágenes por TC con plataforma giratoria y haz cónico para dispositivos pequeños

Especificaciones técnicas

Fuente de rayos X
Tipo de tubo de rayos X	Fuente de rayos X de tubo cerrado
Rango de voltaje del tubo	20-160 kilovoltios
Parámetros del detector
Tipo de detector	Detector de panel de grasa de silicio amorfo
Tamaño de píxel	100 µm
matriz de píxeles	1536*1536
Tamaño máximo de muestra posible	Banco de pruebas plano 580530mm Banco de pruebas giratorio 300300 mm Banco de pruebas de vuelco 250*300 mm
Área máxima de imagen	Banco de pruebas plano 460410mm Banco de pruebas giratorio 300300 mm Banco de pruebas de vuelco 250*100 mm
Resolución de la tarjeta JIMA	Estándar 0,9 μm, máximo 0,5 μm
Peso del equipo	4T
Tamaño del equipo	1800 mm1800 mm2300 mm (Largo * ancho * alto)
Sistema de software de imágenes	Software de escaneo de imágenes integrado Software de reconstrucción de imágenes 3D Software de medición y análisis de imágenes 3D Software de gestión de bases de datos de imágenes.