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| Markenname: | Wellman |
| Modellnummer: | X6800a |
| MOQ: | 1 |
| Zahlungsbedingungen: | T/t |
| Versorgungsfähigkeit: | 5 Einheiten 45 Tage |
Das SMT-Röntgeninspektionsgerät X6800A bietet hochpräzise Inspektionsfunktionen für oberflächenmontierte Technologieanwendungen mit erweiterten Bildgebungs- und Automatisierungsfunktionen.
| Typ | Geschlossen, Mikrofokus |
| Maximale Röhrenspannung | 100 kV |
| Maximaler Röhrenstrom | 200μA |
| Brennfleckgröße | 4μm |
| Funktion | Automatisches Vorheizen |
| Wirkungsbereich | 130 mm * 130 mm |
| Pixelgröße | 85μm |
| Auflösung | 1536*1536 |
| Bildrate | 20fps |
| Neigungswinkel | 60° |
| Größe | 530 mm * 530 mm |
| Erkennbarer Bereich | 500 mm * 500 mm |
| Maximale Belastung | 10kg |
| Vergrößerung | Geometrie 200X | System 1500X |
| Inspektionsgeschwindigkeit | Max. 3,0 Sek./Punkt |
| Abmessungen | 1360 mm (L) * 1365 mm (B) * 1630 mm (H) |
| Gewicht | 1350 kg |
| Stromversorgung | AC110-220V 50/60HZ |
| Maximale Leistung | 1500W |
| Industrie-PC | I5-CPU, 8 GB RAM, 500 GB SSD |
| Anzeiger | 24-Zoll-HDMI-LCD |
| Funktionsmodul | Betrieb |
|---|---|
| Steuerung der Röntgenröhre | Mausklick-Bedienung mit Spannungs-/Stromanzeige und -anpassung in Echtzeit |
| Statusleiste | Visuelle Anzeigen für Verriegelungs-, Vorheiz- und Röntgenstatus |
| Bildanpassung | Einstellbare Helligkeit, Kontrast und Verstärkung für optimale Bildgebung |
| Produktliste | Speichern Sie Inspektionsparameter und rufen Sie sie ab, um die Effizienz zu steigern |
| Navigationsfenster | Click-to-Move-Tischpositionierung |
| Status der Bewegungsachse | Koordinatenanzeige in Echtzeit |
| Inspektionsergebnisse | Organisierte Anzeige der Messdaten mit Gut/Schlecht-Anzeigen |
| Geschwindigkeitskontrolle | Einstellbare Achsbewegungsgeschwindigkeiten (langsam/normal/schnell) |
| Messung der Hohlraumrate | Automatische Berechnung von Lotkugelhohlräumen mit Parameteranpassung |
| Andere Maße | Entfernungs-, Winkel-, Radius-, Umfangs- und Flächenberechnungen |
| Automatische Inspektion | Manuelle Punkteinstellung, Array-Inspektion und automatische Merkmalserkennung |
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