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WELLMAN X6800: Inspección de componentes SOP de precisión

El hombre del bienestarSe trata de unaEl sistema de inspección de rayos X microfocus proporciona una detección fiable de defectos internos para los envases SOP, garantizando una calidad constante en la fabricación electrónica.

Equipado con una fuente de rayos X de microfoco de 5 μm y un aumento del sistema de 1500X, el X6800 revela claramente problemas ocultos en los componentes SOP, como huecos de adhesión a presión, defectos de enlace de alambre,y anormalidades en las articulaciones de soldadura.

El detector de panel plano inclinable de 60° permite la observación de múltiples ángulos sin perder la ampliación, mientras que el sistema de enlace de 5 ejes admite un posicionamiento rápido y preciso.

Diseñado para la producción en masa, cuenta con programación de inspección automatizada, navegación con un solo clic y operación sencilla (entrenamiento de 2 horas).El tubo de rayos X sin mantenimiento y el estricto diseño de seguridad cumplen con las normas industriales, por lo que es ideal para el control de calidad SOP en aplicaciones de electrónica de consumo y automoción.
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