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WELLMAN X6800 : Inspection précise des composants SOP

Le bienfaiteurX6800Le système d'inspection par rayons X microfocus permet de détecter de manière fiable les défauts internes des emballages SOP, assurant ainsi une qualité constante dans la fabrication électronique.

Équipé d'une source de rayons X à microfocus de 5 μm et d'un système d'agrandissement de 1500X, le X6800 révèle clairement les problèmes cachés dans les composants SOP tels que les trous d'attachement, les défauts de liaison de fil,et les anomalies des articulations de soudure.

Le détecteur à panneau plat inclinable à 60° permet une observation sous plusieurs angles sans perte de grossissement, tandis que le système de liaison à 5 axes permet un positionnement rapide et précis.

Conçu pour la production de masse, il est doté d'une programmation d'inspection automatisée, d'une navigation en un clic et d'un fonctionnement simple (2 heures de formation).Le tube à rayons X sans entretien et la conception de sécurité stricte répondent aux normes industrielles, ce qui le rend idéal pour le contrôle de la qualité SOP dans les applications électroniques grand public et automobiles.

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