良い価格  オンライン

製品の詳細

ホーム > 製品 >
電子工学X光線機械
>
SMDとLED部品の検査のためのマイクロフォーカスX線検査機

SMDとLED部品の検査のためのマイクロフォーカスX線検査機

ブランド名: WELLMAN
モデル番号: X6000
Moq: 1
支払い条件: T/T
詳細情報
起源の場所:
中国
証明:
CE, FDA
保証:
12ヶ月
名前:
ウェルマン X線検査装置 X6000
タイプ:
クローズド、マイクロフォーカス
最大管電圧:
90kV
最大管電流:
200μA
焦点サイズ:
5μm
有効面積:
130mm*130mm
パッケージの詳細:
木製ケース
ハイライト:

SMD検査用のマイクロフォーカスX線検出器

,

LED部品の試験用X線検出器

,

保証付き NDT XRay マシン

製品説明
SMD および LED コンポーネント検査用の Microfocus X 線検出器
Wellman X 線検査システム X6800 - 5μm 焦点スポット技術を使用して、BGA はんだボイドと PCB スルーホールの高精度イメージングを実現する自動バッチ検査を備えた産業用 SMT PCB 欠陥検出システム。
主な利点
  • 次世代5インチHDデジタルフラットパネルディテクタ(FPD)
  • オプションの360°回転治具を使用すると、マルチアングルの製品検査が可能になります
  • わずか 2 時間のトレーニングでユーザーフレンドリーな操作が可能
  • 自動ナビゲーション ウィンドウ: ワークテーブルはクリックした位置に直接移動します
  • 420*420mmのワークテーブル、耐荷重15KG
  • プログラム可能な検査プロセスにより自動バッチ検査が可能
  • 移動速度を調整できる3軸リンクシステム
  • 動作寿命が 10,000 時間を超える密閉型 X 線管 (メンテナンスフリー)
動作原理
X6000 X-ray inspection system working principle diagram showing internal components and radiation path
X6000 X線検査システムの動作原理
技術仕様
X線源
タイプクローズド、マイクロフォーカス
最大管電圧90kV
最大管電流200μA
焦点サイズ5μm
関数自動予熱
フラットパネル検出器
有効面積130mm*130mm
ピクセルサイズ85μm
解決1536*1536
フレームレート20fps
作業テーブル
サイズ420mm*420mm
検出可能エリア400mm×400mm
最大荷重15kg
機器パラメータ
倍率ジオメトリ 150X |システム1500X
検査スピード最大3.0秒/点
寸法1100mm (長さ) * 1000mm (幅) * 1600mm (高さ)
重さ1000kg
電源AC110-220V 50/60HZ
最大出力1300W
産業用PCインテル I5 CPU、8G RAM、240GB SSD
表示者24インチHDMI液晶ディスプレイ
安全機能
放射線漏れ漏れなし(≤1μSv/h、国際基準)
鉛ガラス観察窓透明な鉛ガラスが放射線を遮蔽し、内部観察を可能にします
窓/ドアの安全インターロック窓/ドアが開くと X 線の電源が自動的にオフになります
電磁安全スイッチX線がアクティブなときに観察ウィンドウをロックします
非常停止操作位置近くにインスタントパワーオフボタン
チューブの保護X線管のオン放置を防止するソフトウェア
ソフトウェア機能
基本操作
キーボードとマウスの完全な制御は、X 線管の起動やパラメータ調整を含むすべての機能をカバーします。
測定ツール
スルーホールはんだ付け解析のための距離、角度、半径、周長、距離率計算などの包括的な測定機能。
自動検査
手動ポイント設定、通常ポイントの配列パターン、および効率的なバッチ処理を可能にする自動フィーチャ認識の 3 つのモードが利用可能です。
画像処理
明るさ、コントラスト、ゲインを調整して最適な画質を実現します。繰り返し検査するために検査パラメータを保存および取得します。
ボイド率測定
はんだボールのボイド率の面積と周長を自動的に計算し、欠陥を特定し、安定した一貫した検査結果を得るためにパラメータ保存による手動のボイドマーキングをサポートします。
応用例
X6000 X-ray inspection machine application example showing detailed PCB component analysis
X6000検査応用例1
X6000 X-ray inspection machine application example showing detailed component analysis and defect detection
X6000検査応用例2