উন্নত মাইক্রোফোকাস এক্স-রে উত্স যা 120 ডিগ্রি প্রশস্ত বিম কোণ এবং রক্ষণাবেক্ষণ মুক্ত সিল ডিজাইনের সাথে 2μm উচ্চ রেজোলিউশন সরবরাহ করে।যথার্থ ইলেকট্রনিক্স পিসিবি পরিদর্শন এবং অ-ধ্বংসাত্মক পরীক্ষার জন্য আদর্শ.
মূল প্রযুক্তিগত বৈশিষ্ট্য
এক্স-রে রশ্মির বিস্তৃত কোণঃ 120° কভারেজ
রক্ষণাবেক্ষণ মুক্ত সিলড মাইক্রোফোকাস এক্স-রে উত্স নকশা
উচ্চ রেজোলিউশনঃ 2W এ 2 μm ট্রান্সমিশন লক্ষ্যমাত্রা সহ
1 মিমি এফওডি (ফোকাস টু অবজেক্ট ডিসট্যান্স) দিয়ে উচ্চ প্রসারিত