Interface : RS-232C (connecteur Sub-D à 9 broches)
Mettre en évidence:
Source de rayons X Microfocus pour tests de circuits imprimés
,
Source de rayons X Hamamatsu 110 kV
,
Source de rayons X 2 µm pour CND
Description du produit
HAMAMATSU L12531 Microfocus Source de rayons X
Source de rayons X à microfocus avancée offrant une haute résolution de 2 μm avec un angle de faisceau large de 120° et une conception scellée sans entretien.Idéal pour l'inspection des PCB électroniques de précision et les essais non destructifs.
Principales caractéristiques techniques
Grand angle du faisceau de rayons X: couverture de 120°
Conception d'une source de rayons X à microfocus scellé sans maintenance
Haute résolution: 2 μm à 2 W avec cible de transmission
Grand grossissement avec 1 mm FOD (Focus to Object Distance)
Applications principales
Scanner et tomographie par rayons X
Inspection et essais non destructifs
Objectifs de contrôle compatibles
Composants et ensembles électroniques
Composants et matériaux en plastique
Composants et structures métalliques
autres appareils pour la fabrication de circuits imprimés (PCB)