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Mikro-Fokus-Röntgenquelle 2 µm 110 kV für Elektronik-Leiterplatten-NDT-Prüfung
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Mikro-Fokus-Röntgenquelle 2 µm 110 kV für Elektronik-Leiterplatten-NDT-Prüfung

Mikro-Fokus-Röntgenquelle 2 µm 110 kV für Elektronik-Leiterplatten-NDT-Prüfung

Markenname: HAMAMATSU
Modellnummer: L12531
MOQ: 1
Zahlungsbedingungen: T/T
Detailinformationen
Produktbeschreibung
Detailinformationen
Herkunftsort:
Japan
Zertifizierung:
CE, FDA
Zielmaterial:
Wolfram
Markenname:
Hamamatsu
Herkunftsort::
Japan
Verpackung Informationen:
Karton
Kommunikationsmethode:
Schnittstelle: RS-232C (9-poliger D-Sub-Stecker)
Hervorheben:

Mikro-Fokus-Röntgenquelle für Leiterplattenprüfung

,

Hamamatsu Röntgenstrahlquelle 110kV

,

2 µm Röntgenquelle für NDT

Produktbeschreibung
HAMAMATSU L12531 Mikrofokus-Röntgenquelle
Fortschrittliche Mikrofokus-Röntgenquelle mit 2 µm hoher Auflösung, 120° breitem Abstrahlwinkel und wartungsfreiem, abgedichtetem Design. Ideal für die präzise Inspektion von Elektronik-Leiterplatten und zerstörungsfreie Prüfanwendungen.
Wichtige technische Merkmale
  • Breiter Röntgenstrahlwinkel: 120° Abdeckung
  • Wartungsfreies, abgedichtetes Mikrofokus-Röntgenquellen-Design
  • Hohe Auflösung: 2 µm bei 2 W mit Transmissionsziel
  • Hohe Vergrößerung mit 1 mm FOD (Fokus-Objekt-Abstand)
Primäre Anwendungen
  • Röntgen-CT-Scans und Tomographie
  • Zerstörungsfreie Inspektion und Prüfung
Kompatible Prüfobjekte
  • Elektronische Bauteile und Baugruppen
  • Kunststoffteile und -materialien
  • Metallteile und -strukturen
  • Leiterplatten (PCB)
HAMAMATSU L12531 Microfocus X-Ray Source close-up view
Nahaufnahme der Mikrofokus-Röntgenquelle
X-ray beam angle demonstration diagram
Diagramm des 120° Abstrahlwinkels
High resolution imaging example
Beispiel für hochauflösende Bildgebung
Maintenance-free design features
Merkmale des wartungsfreien Designs
Industrial application scenario
Szenario für industrielle Anwendung
Umbauten: 

Hamamatsu Röntgenröhre  

Microfocus X Ray Tube  

Hamamatsu Mikrofocus-Röntgenquelle

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