Προηγμένη πηγή ακτίνων Χ μικροεστίασης που παρέχει υψηλή ανάλυση 2μm με ευρεία γωνία δέσμης 120° και σφραγισμένο σχεδιασμό χωρίς συντήρηση.Ιδανικό για την επιθεώρηση PCB ηλεκτρονικής ακριβείας και μη καταστροφικές εφαρμογές δοκιμών.
Βασικά τεχνικά χαρακτηριστικά
Ευρεία γωνία ακτίνας Χ: κάλυψη 120°
Σχεδιασμός πηγής ακτίνων Χ με σφραγισμένο μικροεστιασμό χωρίς συντήρηση
Υψηλή ανάλυση: 2 μm σε 2 W με στόχο μετάδοσης
Υψηλή μεγέθυνση με 1 mm FOD (εστίαση προς απόσταση αντικειμένου)