Fonte de raios-X microfocada avançada que fornece 2μm de alta resolução com ângulo de feixe de 120° e design selado sem manutenção.Ideal para a inspecção de PCB de eletrónica de precisão e aplicações de ensaio não destrutivo.
Principais características técnicas
Ângulo largo do feixe de raios-X: cobertura de 120°
Projeto de fonte de raios-X de microfoco selado sem manutenção
Alta resolução: 2 μm a 2 W com alvo de transmissão
Alta ampliação com 1 mm FOD (Focus to Object Distance)