λεπτομέρειες για τα προϊόντα

Σπίτι > προϊόντα >

Μηχανή ακτίνας X PCB

Microfocus XRay Inspection System Automatic BGA PCB Void Testing

Όλες οι κατηγορίες

ΜΕΤΡΗΤΗΣ ΑΚΤΙΝΑΣ X

Μηχανή ακτίνας X PCB

Πύργος SMD

Αυτοματοποιημένη Επιθεώρηση Ακτίνων Χ

Μηχανή ακτίνας X ηλεκτρονικής

Ντουλάπι Αποθήκευσης Πάστας Συγκόλλησης

Πηγή Ακτίνων Χ Hamamatsu

Μηχανή ακτίνων Χ BGA

Αυτοματοποιημένη μηχανή συγκόλλησης

Μηχανή ακτίνας X SMT

Hamamatsu Image Intensifier

Τρισδιάστατη επιθεώρηση με ακτίνες Χ

Ενισχυτής εικόνας ακτίνων Χ

Επικοινωνήστε μαζί μας

Mr. Jeff Chan

sales8@well-man.com

＋86 18406666351

＋86 18406666351

Συνομιλία τώρα

Microfocus XRay Inspection System Automatic BGA PCB Void Testing

Ονομασία μάρκας:	WELLMAN
Αριθμός μοντέλου:	X6800
Μούβ:	1
Όροι πληρωμής:	T/T

Λεπτομερείς Πληροφορίες

Περιγραφή προϊόντος

Λεπτομερείς Πληροφορίες

Τόπος καταγωγής:

Πιστοποίηση:

CE,FDA

Εγγύηση:

12 μηνών

Τροφοδοτικό:

AC220V (προαιρετικά), 110V - 220V, 220V 50Hz

Τύπος σωλήνα:

Κλειστός σωλήνας ακτίνων Χ, κλειστός

Λειτουργικό σύστημα:

Win10

Ποσό διαρροής ακτίνων Χ:

≤1 u sv/h, ≤0.3 u sv/h

Ικανότητα:

Μεγάλη, 20kva

Μέγιστη τάση σωλήνα:

90 kV

Αποτελεσματική περιοχή:

130mm*130mm

Μέγεθος pixel:

85 μm

Ψήφισμα:

1536*1536

Μέγιστο ρεύμα σωλήνα:

200μA

Συσκευασία λεπτομέρειες:

ξύλινη θήκη

Επισημαίνω:

Σύστημα ακτίνων Χ για επιθεώρηση ελαττωμάτων BGA PCB

αυτόματη μηχανή ελέγχου κενών PCB

Microfocus X-ray PCB tester

Περιγραφή προϊόντος

Σύστημα ελέγχου ακτίνων Χ με μικροεστίαση Αυτοματοποιημένη δοκιμή κενού PCB BGA

Η μηχανή ελέγχου ακτίνων Χ με μικροεστίαση Wellman X6800 παρέχει ικανότητες ελέγχου ακρίβειας για την κατασκευή ηλεκτρονικών συσκευών SMT με προηγμένα χαρακτηριστικά και αξιόπιστη απόδοση.

Κύρια πλεονεκτήματα

Κλειστό σωλήνα ακτινογραφίας τύπου: διάρκεια ζωής άνω των 10.000 ωρών και λειτουργία χωρίς συντήρηση
5" ψηφιακός ανιχνευτής επίπεδης οθόνης HD (FPD) με λειτουργία κλίσης 60°
Προγραμματιζόμενα πρωτόκολλα επιθεώρησης για αυτοματοποιημένη επιθεώρηση παρτίδας
Χρησιμοποιήσιμη λειτουργία με μόνο 2 ώρες εκπαίδευσης
Το παράθυρο αυτόματης πλοήγησης υποστηρίζει την ακριβή τοποθέτηση του τραπέζι εργασίας
530*530mm τραπέζι εργασίας με μέγιστη χωρητικότητα φορτίου 10KG
Σύστημα σύνδεσης 5 αξόνων με ρυθμιζόμενη ταχύτητα κίνησης

Προδιαγραφές υλικού

Πηγή ακτίνων Χ

Τύπος	Κλειστό, μικροεστίαση
Μέγιστη τάση σωλήνα	90kV
Μέγιστο ρεύμα σωλήνα	200 μA
Μέγεθος εστιακού σημείου	5 μm
Λειτουργία	Αυτοκινητική προθερμία

Ανιχνευτής επίπεδου πίνακα

Ενεργός χώρος	130 mm*130 mm
Μέγεθος pixel	85 μm
Απόφαση	1536*1536
Ποσοστό καρέ	20fps
Κλίση γωνίας	60°

Προδιαγραφές πίνακα

Μέγεθος	530 mm*530 mm
Ανιχνεύσιμη περιοχή	500 mm*500 mm
Μέγιστο φορτίο	10 κιλά

Προδιαγραφές εξοπλισμού

Μεγέθυνση	Γεωμετρία 200X. Σύστημα 1500X
Ταχύτητα επιθεώρησης	Μέγιστο 3,0s/σημείο
Μέγεθος	1360mm (L) * 1365mm (W) * 1730mm (H)
Βάρος	1200 κιλά
Ηλεκτρική τροφοδοσία	Δυναμικό ισχύος:
Μέγιστη ισχύς	1500W
Βιομηχανικές συσκευές	I5 CPU, 8G RAM, 500GB SSD
Δείκτης	24 ιντσών LCD HDMI

Αρχή λειτουργίας

Διάγραμμα αρχής λειτουργίας της μηχανής ελέγχου με ακτίνες Χ του X6800 PCB

Χαρακτηριστικά ασφαλείας

Ειδικότητα προστασίας σωλήνα: Απαγορεύει την έξοδο από το λογισμικό χωρίς να κλείσει το σωλήνα ακτινογραφίας
Διαφανές παράθυρο παρατήρησης από γυαλί μολύβδου: Ασπίζει την ακτινοβολία ενώ επιτρέπει την εσωτερική θέαση
Ηλεκτρομαγνητικός διακόπτης ασφαλείας: κλειδώνει αυτόματα όταν λειτουργεί η ακτίνα Χ
Κουμπί διακοπής έκτακτης ανάγκης που βρίσκεται στη θέση λειτουργίας
Σύστημα κλειδώματος ασφαλείας για το παράθυρο παρατήρησης και την πίσω πόρτα
Διαρροή ακτινοβολίας ≤1μSv/h σύμφωνα με τα διεθνή πρότυπα

Ικανότητες λογισμικού

Βασικές λειτουργίες

Κατάλογος προϊόντων για την αποθήκευση και ανάκληση παραμέτρων ελέγχου
Εμφάνιση των αποτελεσμάτων της επιθεώρησης (ποσοστό κενών, απόσταση, έκταση κλπ.)
Παράθυρο πλοήγησης για ακριβή τοποθέτηση τραπεζιού
Λειτουργία σωλήνα ακτινογραφίας με έλεγχο ποντικιού/κλειδίου
Ρυθμιζόμενη φωτεινότητα εικόνας, αντίθεση και αύξηση
Ρυθμιζόμενες ταχύτητες κίνησης άξονα (αργή/κανονική/γρήγορη)
Εμφάνιση συντεταγμένων άξονα κίνησης σε πραγματικό χρόνο

Μέτρηση του ποσοστού κενών