Harga bagus  on line

detail produk

Rumah > Produk >
Sumber Sinar-X Hamamatsu
>
Sumber sinar-X Mikrofokus 110kV 2μm Resolusi Tinggi untuk Pemeriksaan PCB

Sumber sinar-X Mikrofokus 110kV 2μm Resolusi Tinggi untuk Pemeriksaan PCB

Nama Merek: HAMAMATSU
Nomor Model: L12531
Moq: 1
Ketentuan Pembayaran: T/T
Informasi Detail
Tempat asal:
JEPANG
Sertifikasi:
CE, FDA
Bahan Sasaran:
Tungsten
jenis:
Sumber sinar-X
Nama merek:
Hamamatsu
Tempat Asal::
JEPANG
Metode Komunikasi:
Antarmuka: RS-232C (konektor D-sub 9-pin)
Menyoroti:

Sumber sinar-X fokus mikro 110kV

,

sumber sinar-X resolusi tinggi 2μm

,

sumber sinar-X inspeksi PCB

Deskripsi produk
Sumber Sinar X Mikrofokus 110kV dengan Resolusi Tinggi 2μm untuk Pemeriksaan PCB
HAMAMATSU L12531 110kV Microfocus X-Ray Source memberikan kinerja pencitraan yang luar biasa untuk aplikasi inspeksi presisi,dengan operasi bebas pemeliharaan dan kemampuan resolusi superior.
Fitur Teknis Utama
  • Resolusi tinggi: resolusi 2 μm (kurang dari 2 W) dengan target transmisi
  • Sumber sinar-X Microfocus tipe tertutup tanpa perawatan
  • Sudut sinar X lebar 120° untuk cakupan komprehensif
  • Peningkatan tinggi dengan 1 mm FOD (Fokus ke Jarak Objek)
Primary Applications
X-ray CT Scanning:Pencitraan dan analisis 3D rinci
Pemeriksaan yang tidak merusak:Pemeriksaan internal tanpa kerusakan
Objek Pemeriksaan yang Kompatibel
• Komponen dan perakitan elektronik
• Komponen dan bahan plastik
• Komponen dan struktur logam
• Papan sirkuit cetak (PCB)
Visualisasi Produk
Sumber sinar-X Mikrofokus 110kV 2μm Resolusi Tinggi untuk Pemeriksaan PCB 0
Unit Sumber Sinar X Mikrofokus
X-ray beam angle demonstration diagram illustrating 120° coverage area
120° Lingkaran Penutup Balok
High resolution imaging example showing 2μm detail capability
2μm High Resolution Imaging
Sumber sinar-X Mikrofokus 110kV 2μm Resolusi Tinggi untuk Pemeriksaan PCB 3
Desain Segel Bebas Pemeliharaan
Sumber sinar-X Mikrofokus 110kV 2μm Resolusi Tinggi untuk Pemeriksaan PCB 4
Aplikasi Inspeksi PCB Industri