Interface : RS-232C (connecteur Sub-D à 9 broches)
Mettre en évidence:
Source de rayons X à microfoyer 110 kV
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Source de rayons X à haute résolution de 2 μm
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Inspection des PCB Source de rayons X
Description du produit
Source de rayons X microfocus de 110 kV à haute résolution de 2 μm pour l'inspection des PCB
La source de rayons X à microfocus de 110 kV HAMAMATSU L12531 offre des performances d'imagerie exceptionnelles pour les applications d'inspection de précision,d'une puissance de sortie supérieure à 50 W.
Principales caractéristiques techniques
Haute résolution: résolution de 2 μm (moins de 2 W) avec cible de transmission
Source de rayons X microfocus de type scellé, sans entretien
Grand angle de rayon X de 120° pour une couverture complète
Grand grossissement avec 1 mm FOD (Focus to Object Distance)
Applications principales
Scanner par tomodensitométrie:Imagerie et analyse 3D détaillées Inspection non destructrice:Examen interne sans dommages
Objectifs de contrôle compatibles
• Composants et ensembles électroniques • Composants et matériaux en plastique • Composants et structures métalliques • Les circuits imprimés (PCB)