Nguồn tia X tập trung vi mô 110kV với độ phân giải cao 2μm để kiểm tra PCB
HAMAMATSU L12531 110kV Microfocus X-Ray Source cung cấp hiệu suất hình ảnh đặc biệt cho các ứng dụng kiểm tra chính xác,có khả năng hoạt động không cần bảo trì và khả năng phân giải cao hơn.
Các đặc điểm kỹ thuật chính
Độ phân giải cao: độ phân giải 2 μm (dưới 2 W) với mục tiêu truyền
Nguồn tia X Microfocus loại kín không cần bảo trì
góc chùm tia X rộng 120° để bao phủ toàn diện
Tăng cường cao với 1 mm FOD (Focus to Object Distance)
Ứng dụng chính
X-ray CT Scan:Hình ảnh và phân tích 3D chi tiết Kiểm tra không phá hủy:Kiểm tra nội bộ không bị hư hại
Các đối tượng kiểm tra tương thích
• Các thành phần và bộ phận điện tử • Các thành phần và vật liệu nhựa • Các thành phần và cấu trúc kim loại • Bảng mạch in (PCB)