Fuente de rayos X de microenfoque de 110 kV con alta resolución de 2 μm para inspección de PCB
La fuente de rayos X con microenfoque de 110 kV HAMAMATSU L12531 ofrece un rendimiento de imágenes excepcional para aplicaciones de inspección de precisión, con un funcionamiento sin mantenimiento y capacidades de resolución superiores.
Características técnicas clave
Alta resolución: resolución de 2 μm (menos de 2 W) con objetivo de transmisión
Fuente de rayos X Microfocus de tipo sellado sin mantenimiento
Amplio ángulo de haz de rayos X de 120° para una cobertura completa
Gran aumento con FOD (distancia de enfoque al objeto) de 1 mm
Aplicaciones primarias
Exploración por TC con rayos X:Imágenes y análisis detallados en 3D Inspección no destructiva:Examen interno sin daños.
Objetos de inspección compatibles
• Componentes y conjuntos electrónicos • Componentes y materiales plásticos. • Componentes y estructuras metálicas. • Placas de circuito impreso (PCB)