dobra cena  w Internecie

Szczegóły produktów

Do domu > produkty >
Źródło promieniowania rentgenowskiego Hamamatsu
>
110kV Mikrofokusowe źródło promieniowania rentgenowskiego 2μm Wysoka rozdzielczość do kontroli płyt PCB

110kV Mikrofokusowe źródło promieniowania rentgenowskiego 2μm Wysoka rozdzielczość do kontroli płyt PCB

Nazwa Marki: HAMAMATSU
Numer modelu: L12531
MOQ: 1
Warunki płatności: T/T
Szczegółowe informacje
Miejsce pochodzenia:
JAPONIA
Orzecznictwo:
CE, FDA
Materiał docelowy:
Wolfram
typ:
Źródło promieniowania rentgenowskiego
Nazwa handlowa:
Hamamatsu
Miejsce pochodzenia::
JAPONIA
Metoda komunikacji:
Interfejs: RS-232C (9-pinowe złącze D-sub)
Podkreślić:

Źródło promieniowania rentgenowskiego 110kV z mikroogniskiem

,

Źródło promieniowania rentgenowskiego o wysokiej rozdzielczości 2 μm

,

Inspekcja PCB Źródło rentgenowskie

Opis produktu
Źródło promieniowania rentgenowskiego z mikroogniskiem 110 kV i wysoką rozdzielczością 2 μm do kontroli płytek PCB
Źródło promieniowania rentgenowskiego HAMAMATSU L12531 110 kV z mikroogniskiem zapewnia wyjątkową wydajność obrazowania w zastosowaniach związanych z precyzyjną kontrolą, charakteryzując się bezobsługową pracą i doskonałą rozdzielczością.
Kluczowe cechy techniczne
  • Wysoka rozdzielczość: rozdzielczość 2 μm (poniżej 2 W) z celem transmisji
  • Bezobsługowe źródło promieniowania rentgenowskiego Microfocus w wersji uszczelnionej
  • Szeroki kąt wiązki promieniowania rentgenowskiego wynoszący 120° zapewnia kompleksowe pokrycie
  • Duże powiększenie przy 1 mm FOD (odległość ostrości od obiektu)
Podstawowe zastosowania
Skanowanie rentgenowskie:Szczegółowe obrazowanie i analiza 3D
Kontrola nieniszcząca:Badanie wewnętrzne bez uszkodzeń
Kompatybilne obiekty inspekcji
• Komponenty i zespoły elektroniczne
• Komponenty i materiały z tworzyw sztucznych
• Elementy i konstrukcje metalowe
• Płytki drukowane (PCB)
Wizualizacja produktu
110kV Mikrofokusowe źródło promieniowania rentgenowskiego 2μm Wysoka rozdzielczość do kontroli płyt PCB 0
Jednostka źródła promieniowania rentgenowskiego z mikrofokusem
X-ray beam angle demonstration diagram illustrating 120° coverage area
Pokrycie kąta świecenia 120°
High resolution imaging example showing 2μm detail capability
Obrazowanie w wysokiej rozdzielczości 2μm
110kV Mikrofokusowe źródło promieniowania rentgenowskiego 2μm Wysoka rozdzielczość do kontroli płyt PCB 3
Bezobsługowa, uszczelniona konstrukcja
110kV Mikrofokusowe źródło promieniowania rentgenowskiego 2μm Wysoka rozdzielczość do kontroli płyt PCB 4
Aplikacja do kontroli przemysłowych PCB