dobra cena  w Internecie

Szczegóły produktów

Do domu > produkty >
Inspekcja rentgenowska 3D
>
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT)

Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT)

Nazwa Marki: WELLMAN
Numer modelu: Rentgen X8800
Warunki płatności: T/T
Szczegółowe informacje
Miejsce pochodzenia:
Chiny
Orzecznictwo:
CE,FDA, ISO9001
Podkreślić:

Oprogramowanie do kontroli promieniowania rentgenowego 3D typu otwartego

,

5-calowe cyfrowe urządzenie do inspekcji półprzewodników z detektorem płaskim HD

,

400*400 mm stolik o pojemności obciążenia 10 kg System kontroli X8800

Opis produktu
Sprzęt do szybkiej kontroli wielowarstwowych półprzewodników – X8800 (3D/CT)
Sprzęt do szybkiej wielowarstwowej kontroli półprzewodników X8800 zapewnia zaawansowane możliwości kontroli 3D CT w celu kompleksowej analizy półprzewodników i kontroli jakości.
Zalety produktu
  • Lampa rentgenowska typu otwartego o nieograniczonej żywotności, wymagająca jedynie wymiany żarnika
  • Cyfrowy detektor płaski nowej generacji 5" HD (FPD)
  • FPD przechyla się o 60° i obraca o 360°, zapewniając optymalne ustawienie
  • Okno automatycznej nawigacji - tabela przesuwa się do klikniętych pozycji
  • Stół o wymiarach 400*400 mm i nośności 10 kg
  • 5-osiowy układ zawieszenia z regulacją prędkości
  • Opcjonalne funkcje ACT i PCT 3D CT
  • Łatwa obsługa z szybką identyfikacją usterek – wymagane tylko 2 godziny szkolenia
Parametry sprzętowe
Źródło promieniowania rentgenowskiego
Typ Otwarty, mikrofokus
Maksymalne napięcie lampy 160 kV
Maksymalny prąd lampy 500μA
Moc docelowa 15W
Moc lampy 65 W
Rozmiar plamki ogniskowej 1μm
Detektor płaski
Efektywny obszar 130mm*130mm
Rozmiar piksela 49,5μm
Rezolucja 1536*1536
Liczba klatek na sekundę 20 kl./s
Kąt pochylenia 60°
Kąt obrotu 360°
Tabela
Rozmiar 400 mm * 400 mm
Wykrywalny obszar 400 mm * 400 mm
Maksymalne obciążenie 10 kg
Sprzęt
Powiększenie geometrii 2500X
Szybkość inspekcji Maks. 3,0 s/punkt
Wymiary 1550 mm (dł.) * 1600 mm (szer.) * 1700 mm (wys.)
Waga 1800 kg
Zasilanie AC110-220V 50/60HZ
Maksymalna moc 1800 W
Komputer przemysłowy Procesor I7, 16 GB RAM, 240 GB SSD + 1 TB HDD
Wyświetlacz 24-calowy wyświetlacz HDMI
Bezpieczeństwo
Wyciek promieniowania Brak wycieków, międzynarodowy standard: ≤1μSv/h
Okno obserwacyjne ze szkła ołowiowego Przezroczyste okno ze szkła ołowiowego chroni przed promieniowaniem, umożliwiając obserwację stanu wewnętrznego
Blokada bezpieczeństwa okien i tylnych drzwi Lampa rentgenowska wyłącza się natychmiast po otwarciu okna lub tylnych drzwi
Elektromagnetyczny wyłącznik bezpieczeństwa Blokuje się, gdy włączone jest prześwietlenie, uniemożliwiając otwarcie okna
Zatrzymanie awaryjne Znajduje się obok pozycji roboczej. Naciśnij, aby wyłączyć
Ochrona rur Oprogramowanie uniemożliwia wyjście bez zamknięcia lampy RTG
Funkcja oprogramowania
Moduł funkcyjny Działanie
Kontrola lampy rentgenowskiej Kliknij myszką przycisk X, aby włączyć/wyłączyć prześwietlenie. Wyświetlanie napięcia i prądu lampy w czasie rzeczywistym z możliwością regulacji za pomocą przycisków, suwaka lub pisania
Pasek stanu Wskazuje stan blokady, stan wstępnego nagrzania i stan prześwietlenia rentgenowskiego z naprzemiennym miganiem na czerwono/zielono
Regulacja efektu obrazu Dostosuj jasność, kontrast i wzmocnienie, aby uzyskać optymalne rezultaty
Lista produktów Zapisz parametry kontroli (położenie osi Z, jasność, kontrast, wzmocnienie) w celu wydajnego ponownego użycia
Okno nawigacji Kliknij w dowolnym miejscu na zdjęciu stołu, aby przesunąć stół w wybrane miejsce
Stan osi ruchu Wyświetlaj współrzędne w czasie rzeczywistym
Wynik kontroli Wyświetlaj wyniki pomiarów (liczba pustych przestrzeni, odległość, powierzchnia itp.) w kolejności ze wskazaniem NG/OK
Kontrola prędkości Dostosuj prędkość ruchu każdej osi do wolnej, normalnej lub szybkiej
Pomiar szybkości pustek Automatyczne obliczanie krawędzi kulek lutowniczych, pól i pustych przestrzeni wewnętrznych z kompleksowym wyprowadzaniem danych
Regulacja parametrów Dostosuj próg skali szarości, piksel, kontrast i filtrowanie rozmiaru, aby uzyskać dokładne wyniki
Dodaj puste przestrzenie ręcznie Narysuj wielokąty lub dowolne figury, aby obliczyć je jako puste przestrzenie
Zapisz parametry Przechowuj parametry pomiarowe w celu wydajnego ponownego wykorzystania w podobnych produktach
Inne funkcje pomiarowe Pomiary odległości, współczynnika odległości, kąta, promienia, obwodu dla różnych typów komponentów
Automatyczna inspekcja Ręczne ustawianie, konfiguracja układu i automatyczna identyfikacja punktów kontrolnych
Zasada działania
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 0
Przykłady zastosowań
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 1
Mostek lutowniczy BGA
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 2
Luki lutownicze BGA
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 3
Otwór przelotowy PCB
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 4
Pustki IC i złoty drut
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 5
Luki lutownicze LED
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 6
Pęknięcie złotego drutu LED
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 7
Kondensator
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 8
Induktor
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 9
Transduktor
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 10
Tyrystorowe tłumiki przepięć
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 11
Włókno szklane
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 12
Kabel
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 13
Dioda
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 14
Szczelina spawalnicza rury stalowej
Szybkie wielowarstwowe urządzenia do inspekcji półprzewodników X8800 ((3D/CT) 15
Elektronika samochodowa