Goede prijs  online

product details

Huis > Producten >
Elektronika X Ray Machine
>
Hoge snelheid elektronica röntgeninspectiemachine met 240GB industriële pc om inspectiebeelden op te slaan

Hoge snelheid elektronica röntgeninspectiemachine met 240GB industriële pc om inspectiebeelden op te slaan

Merknaam: WELLMAN
Modelnummer: X6000
Moq: 1
Betalingsvoorwaarden: T/t
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst:
CHINA
Certificering:
CE FDA
Type:
Gesloten, microfocus
Maximale buisspanning:
90 kV
Maximale buisstroom:
200μA
Brandpuntsgrootte:
5μm
Effectief gebied:
130 mm * 130 mm
Markeren:

Hoge Snelheid Elektronica Röntgenmachine

,

Gegevensanalyse Elektronica Röntgenmachine

,

Intelligente PCB röntgenmachine

Productbeschrijving
Hoge snelheid elektronica röntgeninspectiemachine met 240GB industriële pc om inspectiebeelden op te slaan
Microfocus röntgeninspectiesysteem X6000

Geavanceerd röntgeninspectiesysteem ontworpen voor snelle analyse van elektronische componenten met intelligente beeldverwerkingsmogelijkheden.

Werkingsprincipe
Diagram illustrating the working principle of X-Ray Inspection System showing component scanning and imaging process
Belangrijkste voordelen
  • Gesloten röntgenbuis met een levensduur van meer dan 10.000 uur (onderhoudsvrij)
  • Nieuwe generatie 5" HD digitale flatpaneldetector (FPD)
  • Optionele 360° roterende mal voor inspectie vanuit meerdere hoeken
  • Automatisch navigatievenster - tafel beweegt naar aangeklikte positie
  • Tafel van 420 x 420 mm met een draagvermogen van 15 kg
  • In snelheid verstelbaar 3-assig koppelingssysteem
  • Intuïtieve bediening met slechts 2 uur training vereist
  • Programmeerbare inspectieprocedures voor geautomatiseerde batchinspectie
Hardwarespecificaties
Röntgenbron
Type Gesloten, microfocus
Maximale buisspanning 90 kV
Maximale buisstroom 200μA
Grootte van het brandpunt 5μm
Functie Automatisch voorverwarmen
Flatpanel-detector
Effectief gebied 130 mm × 130 mm
Pixelgrootte 85μm
Oplossing 1536×1536
Framesnelheid 20 fps
Tabelspecificaties
Maat 420 mm × 420 mm
Detecteerbaar gebied 400 mm × 400 mm
Maximale belasting 15 kg
Apparatuurspecificaties
Vergrotingsgeometrie 150X
Systeemvergroting 1500X
Inspectiesnelheid Maximaal 3,0 s/punt
Afmetingen 1100 mm (L) × 1000 mm (B) × 1600 mm (H)
Gewicht 1000 kg
Voeding AC110-220V 50/60 Hz
Maximaal vermogen 1300W
Industriële pc Intel I5-CPU, 8 GB RAM, 240 GB SSD
Weergave 24-inch HDMI-LCD-scherm
Softwaremogelijkheden
Bedieningsinterface

Met toetsenbord en muis kunnen alle bewerkingen worden uitgevoerd met intuïtieve bediening.

Controle van de röntgenbuis

Bediening met een muisklik om röntgenstraling aan/uit te zetten met real-time weergave van spanning en stroom. Aanpassen via knoppen, schuifregelaars of directe invoer.

Statusbewaking

De visuele statusbalk geeft de interlockstatus, de voorverwarmingsstatus en de röntgenstatus aan met afwisselend rode en groene indicatoren.

Beeldaanpassing

Pas de helderheid, het contrast en de versterking vrij aan voor optimale beeldkwaliteit en inspectieresultaten.

Productbeheer

Bewaar inspectieparameters (positie van de Z-as, helderheid, contrast, versterking) voor efficiënte herhaalde inspecties.

Navigatievenster

Camera legt tafelbeeld vast; klik ergens om de tafel automatisch naar de geselecteerde positie te verplaatsen.

Bewegingscontrole

Real-time coördinatenweergave met instelbare asbewegingssnelheden (langzaam, normaal, snel).

Maakt snelheidsmeting ongeldig

Automatische berekening van het aantal lege ruimten, soldeerboloppervlak, omtrek en defectidentificatie met NG/OK-kleurcodering.

Meetfuncties

Uitgebreide tools, waaronder afstands-, afstandssnelheid-, hoek-, omtrek- en straalmetingen voor verschillende componenttypen.

Geautomatiseerde inspectie

Handmatige puntinstelling, array-gebaseerde inspectie en automatische functieherkenning voor batchverwerking en beeldopslag.

Toepassingsvoorbeelden
Example application showing X-Ray Inspection System analyzing electronic components in manufacturing environment Second example demonstrating X-Ray Inspection System capabilities with detailed component analysis